アドバンテストは、DRAMやNANDフラッシュメモリーのバーンインテストに向けたメモリーICテスター「B6700D」を発表した(ニュースリリース)。バーンインテストとは温度などの負荷をかけた状態で実施するテストで、初期不良を持ったICをはじくことで、高い信頼性のICを残すことを狙う。

今回の新製品。アドバンテストの写真
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 新製品は、最大10MHzの信号速度で最大48枚のバーンインボードを並列にテストできる。従来機種の「B6700」に比べて、1枚のバーンインボードごとに最大2倍の256Aの電源電流を供給できるようになった。さらに、ドライバーピンも2倍になり、高速テストが可能になったとする。将来、NANDの多層化がさらに進んだとしても、「同時測定個数が減ることはない」(同社)という。

 チャンバーは0.1℃単位で制御が可能である。「Bad Block Memory:BBM」や「Universal Buffer Memory:UBM」、「Data Pattern Memory:DPM」といった機能を備えており、「NANDフラッシュメモリーのバーンインテストに最適」(同社)という。新製品のB6700Dは従来機種のB6700と同じOSを使っており、テストプログラムに互換性がある。

 B6700Dは、現在、出荷中である。価格などは未公表。