ICテスト分野で最大の国際会議International Test Conference(ITC)は毎年秋に米国で開催される(ITC 2016記事の一覧ページ)。そのアジア版である「ITC Asia」が創設され、第1回として「ITC Asia 2017」(ホームページ)が2017年9月13日~15日に台湾・台北市の台北南港展覧館で開催された。

ITC Asia 2017とSEMICON Taiwan 2017の会場。筆者撮影。
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 同じ場所・日程で「SEMICON Taiwan 2017」が行われていた。SEMICON Taiwanは台湾で最大の半導体関係の展示会で、毎年4万人程度の参加者がある。一方、今年初めて開催されたITC Asiaは200人程度の参加者。ITC Asiaの参加者はSEMICON Taiwanの200分の1に過ぎないが、SEMICON Taiwanと同格で(併記されて)案内されており、長くテストに携わってきた筆者には、ITC Asiaが大事に扱われているように感じられた。

 ITC Asia 2017の構成は次の通りである。初日午後に3件のチュートリアルがあり、2日めと3日めの本会議で合計4件の基調講演、1件の基調パネル討論、20件の招待論文の発表(併設展示の出展企業からのプレゼンテーションを含む)、27件のレギュラ-論文の発表(投稿は50件で、約50%の採択率)があった。事前登録者は193名で、その内チュートリアルのみの参加者は107名。国別では台湾121名、日本15名、米国15名、韓国4名。また、SEMICON Taiwan会場の一角に、ITC Asiaの企業展示(8か国から22社)が設けられていた。

SEMICON Taiwan 2017の一角にあった ITC Asiaの企業展示。
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