「International Test Conference 2016」(米テキサス州フォートワースで2016年11月13日~18日に開催)の本会議が終了した後に1時間の休憩をはさんで、 併設ワークショップ「First IEEE International Workshop on Automotive Reliability & Test – ART Workshop」が始まった。2016年11月17日(木)16時開始で、翌18日(金)16時に終了した。

 ARTでは、車載IC関係のテスト技術、故障率・不良率、信頼性(reliability, dependability)、けんろう性(robustness)、歩留まり、経年劣化(aging)/寿命(life time)、診断、セキュリテイー(security)、機能安全性(safety)等に関して議論した。基調講演が2件、パネル討論会が1件、一般論文・講演発表が22件行われた。一般論文の投稿は24件で、うち22件が採択されおり(口頭発表17件、ポスター5件)、論文採択を競う場ではなく、様々な技術を自由な雰囲気で発表・議論する場との印象を受けた。

 投稿内訳は、企業から13件、産学共同で6件、大学から5件と、企業からの発表が多かった。産業界からの発表は半導体メーカーとEDAベンダーが中心で、自動車メーカーは2~3件で共著になっている程度である。地域別では米国からは8件にとどまり、欧州からが多い印象をもった。なお日本からはルネサス システムデザインと群馬大学からの合計2件である。参加者は150名前後で、ITC後のワークショップとしては非常に多く、この分野への関心が高いことがわかる。なお、ITCの本会議でも車載ICテスト関係のセッションや、発表がいくつもあった。

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