米国テキサス州フォートワースで開催の「ITC(International Test Conference)2016」(2016年11月13日~18日)では、車載ICの信頼性をテーマにしたパネル討論会があった。「Special Session 8:Automotive IC Quality & Reliability: Today’s Challenges& Solutions」がそれである。

この先は会員の登録が必要です。有料会員(月額プラン)は申し込み初月無料!