米国テキサス州フォートワースで開催の「ITC(International Test Conference) 2016」(2016年11月13日~18日)のセッション3「Analog I」において、米Intel社がアナログ故障シミュレーションに関する講演を行った。講演タイトルは「Fault Simulation for Analog Test Coverage」(講演番号3.3)である。

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