「ITC(International Test Conference) 2016」(米テキサス州フォートワースで2016年11月13日~18日に開催)」のセッション 3「Analog I」では、アナログ回路のテスト技術に関する講演が複数あった。デジタル回路のテスト技術の向上で出荷チップの故障率は数ppm程度まで低減されてきた。ところが、現状ではアナログ回路のテストカバレッジが低く、1ppm以下の故障率を達成するにはアナログ回路のテストカバレッジを向上させる必要がある。

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