米国テキサス州フォートワースで開催の「ITC(International Test Conference)2016」の本会議(2016年11月15日~17日)の1日目のプレナリーセッションの基調講演に、米Mentor Graphics社のCEOのWalden C. Rhines氏が登壇した。講演タイトルは「The Business of Test: Test and Semiconductor Economics」である。

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