米国テキサス州フォートワースで「ITC(International Test Conference)2016」(2016年11月13日~18日)が開幕した。本体といえる論文セッションの始まる前日(11月14日)の夜,例年どおりマンデーパネルが設置された。タイトルは「テストに未知の未知技術(The Unknown Unknowns of Test)」だった。

 ICのプロセス技術や設計技術の進展に合わせて,次々に対応方法を考え出してきたテスト技術だが,まだまだ新たなテスト技術が必要だと考えられる。開発すべきテスト技術が未知であるがゆえに,誤ったテスト戦略を採用したり,テスト結果を間違って解釈することもある。一方,未知のテスト技術は,それがうまく開発できれば莫大な利益を獲得できる可能性も秘めている。

 このような背景から,一見すると訳の分からないタイトル-The Unknown Unknowns of Test-が今回のパネルに付いたようだ。参加者は150名以上と例年どおりに盛況であり,今後のテスト技術としてどのようなものを考えるべきかという点をメインに様々な議論が交わされた。司会は、パネルのモデレーターとして評判の高い米ARM社のR. Aitken氏が務めた。パネリストには6名の専門家が登壇した。各氏のポジショントークの主な内容は以下の通り。

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