米国テキサス州フォートワースで開催の「ITC(International Test Conference)2017」(本会議:2017年10月31日~11月2日)のスペシャルセッション6「Emerging IEEE Test Standards」において、アナログ試験のテストアクセスとテストカバレッジに関する標準化活動についての招待講演があった。講師はカナダMentor, a Siemens Business社のStephen Sunter氏で、講演タイトルは「IEEE Analog Test Coverage and Access: A New Study Group for Longstanding Problems」だった。

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