「ITC (International Test Conference) 2017」(米テキサス州フォートワースで2017年10月31日~11月2日に本会議開催)のセッション 8「Interface」では、テストインターフェースに関する発表が行われた。

 このセッションで、米Dialog Semiconductor社は「Single-Pin Test Control for Big A, Little d Devices」というタイトルで発表した。テストに必要なピンは少なければ少ないほど良い。デジタルが少しでアナログが大半(いわゆるBig A, Little d)のチップのテストでは、テスト用制御端子は1ピンだけで十分であるという。

 ただし、そのピンにはアナログ信号を入力する。内部に2つのコンパレーターを準備しておき、入力電圧を3値(LOW/MEDIUM/HIGH)に分解する。3値の遷移まで考えると、6状態をとることができる。このため、送信したいデジタルコードをアナログ値にエンコードして命令を送り、それらのコードをシフトレジスターに書き込むことで、Big A, Little dチップのテストに必要な制御信号は全て実行することができる。

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