今回の本コラムでは、パワーデバイス・イネーブリング協会(PDEA)が主催する「半導体テスト技術者検定」の過去問題を紹介する。前回の 問題16と同じく、7月に実施された第3回半導体テスト技術者検定に出題されたものである。本コラムの詳細はこちら、PDEAについてはこちら、半導体テスト技術者検定の教科書についてはこちら、検定の問題集についてはこちら)。

 今回紹介するのは、ループバック試験に関する問題である。ループバック試験はインターフェース回路の試験で一般的に用いられる方法であり、オンライン試験に利用されることもある試験項目である。

 今回の問題の難易度は★★★(本コラムでは紹介する問題の難易度を★の数(難易度に応じて1~5個)で表しており、★の数が多いほど難しい)。標準的なレベルなので、検定合格のためには確実に正解したい問題である。解説も読んで参考にしてほしい。

【問題17】難易度:★★★

次の文章を読んで( )内に入る正しい言葉の組み合わせを(1)~(4)の中から選びなさい。

インターフェースデバイスの試験では、トランスミッタの出力とレシーバの入力を(ア)接続し、お互いを試験のための(イ)、(ウ)として両者を同時に試験する。

(1) ア:直接         イ:信号生成器   ウ:デジタイザ
(2) ア:シグナルアナライザ  イ:信号生成器   ウ:デジタイザ
(3) ア:直接         イ:プリアンプ   ウ:電力測定器
(4) ア:シグナルアナライザ  イ:プリアンプ   ウ:電力測定器

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