パワーデバイスを安心・安全に使うための勘所を紹介する本連載の第1回は、パワーデバイス・イネーブリング協会(PDEA)が活動の一環として主催・推進している「半導体テスト技術者検定」で過去に出題した問題を紹介する(本連載の趣旨はこちら)。問題だけでなく正解と解説を示すので、正答できるかどうかを試していただきたい。仮に正答できなかった場合には、解説を参考に新たな知識として吸収していただきたい。

 半導体テスト技術者検定は、半導体の基礎や品質保証、多様な半導体製品群やその試験装置・試験手法などについての知識を問うものだ。広い範囲の知識を必要とする半導体テスト技術者や半導体開発者、そして半導体ユーザーなどを対象に、知識・技術の向上を支援し習熟度を客観的に評価するためのツールとして、PDEAが2014年から実施している。

 今回は「故障率」に関する問題を紹介する。半導体デバイスの品質保証の観点から、重要な信頼性指標として不良率と故障率がある。不良率と異なり、故障率には時間の概念が入っている。

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 下記の問題は、2015年の半導体テスト技術者検定3級(2015年6月21日実施)に出題されたもので、正答率は55%だった。なお、本コラムで紹介する半導体テスト技術者検定の問題では、難易度を★の数で表していく。★は1~5個あり、★の数が多いほど難しくなる。

【問題1】難易度:★★★★

 次の文章を読んで( )内に入る正しい言葉の組み合わせを(1)~(4)の中から選びなさい。

 故障率とは、単位時間内に故障となる半導体デバイスの比率であり、( ア )という単位が用いられる。1( ア )は、( イ )の半導体デバイスが( ウ )稼働して故障発生が1個のレベルである。

(1) ア:ppm、 イ:100万個、 ウ:1時間

(2) ア:時間、 イ:10億個、  ウ:1時間

(3) ア:FIT、  イ:100万個、 ウ:1000時間

(4) ア:MTTF、 イ:1万個、  ウ:1万時間

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