今回もパワーデバイス・イネーブリング協会(PDEA)が主催する「半導体テスト技術者検定」の過去問題を紹介する(本コラムの詳細はこちら、PDEAについてはこちら、半導体テスト技術者検定の教科書についてはこちら、検定の問題集についてはこちら)。

 本コラムで紹介する半導体テスト技術者検定問題の14問目として出題するのは、デバイスのオープン試験に関する問題である。オープン試験と言っても、もちろん患者に対して情報をオープンにして実施する臨床試験のことではない。デバイスの接続試験の一つであり、デバイスの直流特性を測定するDC特性試験の代表的な試験項目である。

 問題の難易度は★★★★★(本コラムでは紹介する問題の難易度を★の数(難易度に応じて1~5個)で表しており、★の数が多いほど難しい)。検定での正答率40%という相当な難問である。問題をよく読んでじっくりと考えてほしい。

【問題14】難易度:★★★★★

デバイスのDC試験でのオープン試験に関して、以下の中で「誤っているもの」を選びなさい。

(1) オープン試験はデバイスソケットとデバイスパッケージのピンが正しく接触していることを試験する。

(2) 各信号ピンに一定の電力を入力して、各信号ピンの電位を測定することで、試験を行う。

(3) デバイスピン内部の保護ダイオードが存在することが確認できればPASSである。

(4) 信号ピンに電圧を加えても電流が流れなければPASSである。

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