今回の本コラムでは、パワーデバイス・イネーブリング協会(PDEA)が主催する「半導体テスト技術者検定」の過去問題を紹介する(本コラムの詳細はこちら、PDEAについてはこちら、半導体テスト技術者検定の教科書についてはこちら、検定の問題集についてはこちら)。

 本稿で紹介するのは、バーンイン(burn-in)である。バーンインと言っても何かを焼き付けるのではない。バーンインは半導体デバイスなどの品質テストの一種であり、初期故障をスクリーニングする上で重要な役割を果たすものである。

 今回の問題の難易度は★(本コラムでは紹介する問題の難易度を★の数(難易度に応じて1~5個)で表しており、★の数が多いほど難しい)。簡単な問題だが、うっかりミスをしないよう問題をよく読んでほしい。

【問題11】難易度:★

バーンイン・テストに関する記述として「適切でないもの」はどれか。以下の中から選びなさい。

(1) デバイスの経年変化(寿命)を予測することを目的とする。

(2) バーンイン・テストにより、デバイスの製品寿命を延ばすことができる。

(3) デバイスを恒温槽に入れて、温度ストレスを加えながら試験する。

(4) 信頼性よりテストコストが優先される場合、すべてのデバイスを試験するのではなく、いくつかのサンプルだけを抜き取り、検査を行うことがある。

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