今回のコラムも前回に引き続き、パワーデバイス・イネーブリング協会(PDEA)が主催する「半導体テスト技術者検定」の過去問題を紹介する(本コラムの詳細はこちら、PDEAについてはこちら、半導体テスト技術者検定の教科書についてはこちら、検定の問題集についてはこちら)。

 今回紹介するのは、アレニウスモデルに関する問題である。アレニウスモデルは化学反応に関するモデルであり、加速寿命試験などに用いられているテストと関わりが深い。しかし、名前を耳にしたことはあっても、内容を正しく理解しているとは限らない。

 今回の問題の難易度は★★★★★(本コラムでは紹介する問題の難易度を★の数(難易度に応じて1~5個)で表しており、★の数が多いほど難しい)。正解率40%台という難問なので、よく考えて解答してほしい。また、解答が分らない場合は、解説を参考にして理解を深めてほしい。


【問題20】難易度:★★★★★

次の文章を読んで()内に入る正しい言葉の組み合わせを(1)~(4)の中から選びなさい。

半導体デバイスの故障を表すモデルとして広く活用されているアレニウスモデルは以下の式で表される。

ここで、Aは比例定数、kはボルツマン定数、xは(ア)、Kは時間tに対する(イ)、Eaは(ウ)、Tは(エ)である。

  • (1) ア:故障数 イ:不良率 ウ:電界強度 エ:絶対温度
  • (2) ア:故障数 イ:製品寿命 ウ:活性化エネルギー エ:経過時間
  • (3) ア:劣化量 イ:故障率 ウ:電界強度 エ:経過時間
  • (4) ア:劣化量 イ:反応速度 ウ:活性化エネルギー エ:絶対温度

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