今回もパワーデバイス・イネーブリング協会(PDEA)が主催する「半導体テスト技術者検定」の過去問題を紹介する。(本コラムの詳細はこちら、PDEAについてはこちら、半導体テスト技術者検定の教科書についてはこちら、検定の問題集についてはこちら)。

 今回紹介するのは歩留まりに関する問題である。歩留まりは製造プロセスの良否を示す指標であるが、その低下がコスト増に直結するため、非常に重要な数値となっている。

 今回の問題の難易度は★(本コラムでは紹介する問題の難易度を★の数(難易度に応じて1~5個)で表しており、★の数が多いほど難しい)。正答率が90%を超える非常に優しいレベルの問題だが、解説を参考にして正しく理解しておいてほしい。

【問題19】難易度:★

「歩留まり(イールド)」を説明した記述はどれか。以下の中から正しいものを選びなさい。

(1) 単位時間内に故障となるデバイスの比率。

(2) 製品として出荷したデバイスが故障するまでの平均時間。

(3) 製造したデバイス数に対する良品デバイス数の割合。

(4) 製造したデバイス数に対する不良品デバイス数の割合。

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