【図3 マルチ・スキャン・チェーン】スキャン・チェーン(a)をn分割すると,チェーン当たりのフリップフロップ数が1/nとなる。テスト・パターンの入出力時間は1/nとなる(b)。ただし,分割に伴い,スキャン・イン/スキャン・アウト端子も複数必要となる。それを一つにするのが,圧縮スキャンである(c)。出典はOKIセミコンダクタ。
【図3 マルチ・スキャン・チェーン】スキャン・チェーン(a)をn分割すると,チェーン当たりのフリップフロップ数が1/nとなる。テスト・パターンの入出力時間は1/nとなる(b)。ただし,分割に伴い,スキャン・イン/スキャン・アウト端子も複数必要となる。それを一つにするのが,圧縮スキャンである(c)。出典はOKIセミコンダクタ。

スキャン・テスト