【図2 スキャン・テストの手順】まず,スキャン・モードに設定し,スキャン・イン端子からスキャン・フリップフロップに対してテスト・パターンを設定する(a)。次に,通常動作モードに設定し,スキャン・フリップフロップ間の組み合わせ回路を動作させる。そして,テスト・クロックを動作させて,組み合わせ回路の出力をスキャン・フリップフロップに取り込む(b)。その次に,再びスキャン・モードに設定し,スキャン・フリップフロップに取り込んだ値をスキャン・アウト端子で観測する(c)。なお,この図では,簡単化のために,クロックの接続は省略してある。出典はOKIセミコンダクタ。
【図2 スキャン・テストの手順】まず,スキャン・モードに設定し,スキャン・イン端子からスキャン・フリップフロップに対してテスト・パターンを設定する(a)。次に,通常動作モードに設定し,スキャン・フリップフロップ間の組み合わせ回路を動作させる。そして,テスト・クロックを動作させて,組み合わせ回路の出力をスキャン・フリップフロップに取り込む(b)。その次に,再びスキャン・モードに設定し,スキャン・フリップフロップに取り込んだ値をスキャン・アウト端子で観測する(c)。なお,この図では,簡単化のために,クロックの接続は省略してある。出典はOKIセミコンダクタ。

スキャン・テスト