【図1 スキャン・テスト回路の構成】マルチプレクサ方式のスキャン・フリップフロップは,マルチプレクサと通常のフリップフロップで構成される(a)。スキャン・イネーブルで通常動作とテスト・モード動作を切り替える。テスト・モード時には,スキャン・フリップフロップをシリアルに接続し,シフト・レジスタを構成する(b)。チップの外部スキャン・イン端子より,このシフト・レジスタの値を設定し,スキャン・アウト端子より値を読み出す。出典はOKIセミコンダクタ。
【図1 スキャン・テスト回路の構成】マルチプレクサ方式のスキャン・フリップフロップは,マルチプレクサと通常のフリップフロップで構成される(a)。スキャン・イネーブルで通常動作とテスト・モード動作を切り替える。テスト・モード時には,スキャン・フリップフロップをシリアルに接続し,シフト・レジスタを構成する(b)。チップの外部スキャン・イン端子より,このシフト・レジスタの値を設定し,スキャン・アウト端子より値を読み出す。出典はOKIセミコンダクタ。

スキャン・テスト