半導体理工学研究センター(STARC)は,MOS FETの回路シミュレーション用モデル(いわゆるコンパクト・モデル)の比較結果を,48th Design Automation Conference(DAC 2011)のUser Truckのポスター・セッションで発表した。タイトルは「Quality Assurance Methodology of Compact MOSFET Models Including Variability Effects」(講演番号:10U.15)である。

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