「2010 Symposium on VLSI Circuits」のセッション12「Digital Circuits Resilient」は,東京大学とルネサス エレクトロニクスによる電源ノイズ・キャンセル技術,神戸大学によるオンチップ電源波形観測技術,京都大学と京都工芸繊維大学によるソフトエラー耐性のあるフリップフロップ技術,そして米Stanford University,NEC,ルネサス エレクトロニクスによるゲート酸化膜の早期故障検出技術と,デジタル回路の高信頼化へ向けたさまざまな回路/システム技術が集まった興味深いセッションとなった。また,全ての発表に日本勢が関わった。

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