アドバンテストは、同社のSoCテスター「T2000」の車載向け製品を発表した(ニュースリリース)。これまで同社はアナログやパワーの車載IC向けテスターに力を入れていたが、ADASや自動運転時代の到来を見据えて、大規模ロジックを集積する車載SoCのテストにも本格的に取り組む。

モジュール式SoCテスター「T2000」。アドバンテストの写真
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 T2000はアドバンテストの主力製品の1つで、テスターモジュールを入れ替えることでさまざまな半導体のテストに対応できる。これまでは車載ICのうち、パワーデバイスやパワーマネジメントICをはじめとしたアナログ車載ICのテストに向けて、主に製品を提供してきた。例えば、トヨタ自動車は2011年にIGBTのテストで(関連記事1)、2013年にパワーICのテストでT2000を導入することが発表された(関連記事2)。またデンソーは、制御系、駆動系、センサー系などさまざまなミックスト・シグナル・デバイスの評価にT2000を適用することが2014年に明らかにされた(関連記事3)。

 このほかにも、アドバンテストは車載IC対応向けにさまざまな製品を開発・提供してきた。例えば、寒冷地で使った場合の車載ICのテストに対応するハンドラー「M4872」を2016年に開発した(関連記事4)。-40~+125℃の広い温度範囲において、最大15秒程度という短いでテスト対象ICを設定温度に制御できる。誤差は1℃以内と小さい。また、2018年には高温での車載フラッシュメモリーの信頼性テストに向けたメモリー・バーンイン・テスター「B6700L」を発表した(関連記事5)。試験可能な温度範囲は-40~+150℃と広い。