エレクトロニクステストの国際イベント「ITC(International Test Conference)2018」は、10月28日~11月2日に米国アリゾナ州フェニックスで開催された。アリゾナ州での開催は49回目を迎えるITCで初めて。真夏を思わせる青空の下、活発な議論が繰り広げられた。

会場のPhoenix Convention Center。筆者撮影
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 ITCはエレクトロニクステスト技術に関する世界最大のイベントで、学会や展示会などを開催しており、世界各国からエンジニア、研究者が多数参加している。今回のITCでは、「AI」、「Automotive」、「Security」の3つをフォーカストピックに設定した。また今回、初めての試みとして、同一会場で故障解析の国際会議「ISTFA(International Symposium on Testing and Fault Analysis)」と同時開催して、参加者数の増大を狙った。しかし、会場のPhoenix Convention Centerではサボテンの形をしたオブジェが参加者を歓迎していたものの、残念ながら今回も参加者数の回復は見られなかった(サボテンキャンディーほど甘くはなかった)。

サボテンキャンディー。筆者撮影
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 昨年と同じく採択論文数は前年比で減少したが、パラレルセッション数は昨年の4パラレルから例年の5パラレルに戻った。採択論文数は昨年より2件少ない41件で(採択率は30%弱)、それを補う形で47件の招待講演が行われた。会議参加者数は昨年並みの1100名程度だったが、日本からの参加者は昨年から5割増えて約30名となった。

 ITCは論文発表の3日間を中心とする6日間を「ITC Testweek」と呼び、様々なイベントを設けている。今年は10月28日と29の両日に計12件のチュートリアル(全て半日)が開催されたのを皮切りに、メインの本会議は10月30日~11月1日に行われた。本会議には、3件の基調講演をはじめとして、採択論文の発表が13セッションで行われた。さらに、3つのフォーカストピックであるAI、Automotive、Securityのトラックには、それぞれ、5件、3件及び1件のセッションが設置された。それ以外にも、5件の特別セッションと4件のその他のセッションがあった。さらに、企業スポンサーによる6件の企業フォーラム、37件のポスター展示などもあり、11月1日と2日の2つの併設ワークショップまで多くのテスト技術関連行事が集中して実施された。

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