エレクトロニクステストの国際イベント「ITC(International Test Conference)2018」(10月28日~11月2日に米国アリゾナ州フェニックスで開催)では、メインテーマが「AI」だった。そのAIをテーマにしたパネル討論会「Could AI Eliminate the Need for Test(AIでテストエンジニアは要らなくなるか)」があった。90分間、激論が交わされた。

5名のパネリストと司会者。会場で筆者が撮影
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 ITCのパネル討論会は、90分間の時間内に、パネリストのポジショントークと会場を交えた討論の2部で構成されている。このAIをテーマにしたパネル討論会は少し時間割が変わっていた。パネリストのポジショントークはミニ基調講演集として、パネル討論会の前に1時間の別セッション枠で行われた。その後、90分間まるまるを使って、会場を交えた討論会が実施された。本会議最終日(11月1日)の午後という悪条件にもかかわらず、100名を超える参加者を集めて、時間切れとなるまで激論が続いた。

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