今回は1年ぶりにパワーデバイス・イネーブリング協会(PDEA)が主催する「半導体テスト技術者検定」3級の過去問題を紹介する(本コラムの詳細はこちら、PDEAについてはこちら、半導体テスト技術者検定の教科書についてはこちら、検定の問題集についてはこちら)。

 今回紹介するのは、自己発振試験に関する問題である。自己発振試験はPLL(Phase Locked Loop、位相同期回路)などの自己発振機能を持つデバイスに対してAC特性を試験するテスト項目である。電子回路中で様々な用途に利用されるPLLであり、その基本的な機能のテストである自己発振試験は重要なテスト項目の1つである。

 今回の問題の難易度は★★★★(本コラムでは紹介する問題の難易度を★の数(難易度に応じて1~5個)で表しており、★の数が多いほど難しい)。久しぶりということでかなり難しい問題を選んだので、よく考えて正解してほしい。また、正解に至らなかった場合も、解説を読んでしっかりと理解してほしい。


【問題22】難易度:★★★★

自己発振試験に関する以下の記述の中で誤っているものを選びなさい。

  • (1)PLLなどの自己発振するデバイスの周波数/周期を測定する。
  • (2)測定する信号を分周して測定するが、分周比を大きくするほど周波数分解能が粗くなってしまう。
  • (3)分周信号を周波数測定用カウンタの開始と終了に利用し、その間に入力される基準クロック数をカウントして、周波数測定を行う。
  • (4)PLLデバイスの周波数試験には、ロックのための待ち時間が必要である。

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