半導体テスト関連で世界最大の国際会議であるITC(International Test Conference)。2019年のITCは、11月10日~15日に米国ワシントンDCで開催された。今回は50回目のITCということで、久しぶりに東海岸に戻ってのワシントンDCでの開催である。半導体の浮沈に伴う激しい荒波にもまれてきたITC。その姿を象徴するかのように激しい寒波に見舞われたが、会場内は50回記念のお祝いの熱気が充満していた。

会場のMarriott Washington Wardman Park。筆者撮影
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 ITCでは論文発表などの本会議をはじめ、さまざまなイベントが開催されており、世界各国からエンジニア、研究者が参加している。今回のITCは第50回を記念して、1990年代まで何度も開かれたワシントンDCのホテル「Marriott Washington Wardman Park」(以前はSheraton Washington)での21年ぶりの開催だった。フォーカストピックは一昨年から引き続いて「AI」「Automotive」「Security」の3つが設定された。また、今回は50回記念として6件の全体セッションが設けられ、それぞれにキーノートスピーチとビジョナリートークが組み込まれるなど、一部従来と異なった構成となった。

全体セッション会場。筆者撮影
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 今回は全体構成の変化に伴って一般論文数を絞り込んだこともあり、採択論文数は昨年(2018年)より5件少ない36件となった(採択率は30%未満)。ただし、36件の招待講演が追加され、昨年同様に5パラレルセッション構成だった。会議参加者数は昨年の1100名程度とほぼ同じだったが、日本からの参加者は30名以上となり大幅増の昨年をさらに上回った。筆者は2004年からITCのリポートを担当しているが、ITCの日本国内での認知度が回復してきているようで幸甚である。

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