NIが「InstrumentStudio(TM)」を発表、

自動テストシステム開発の生産性がさらに向上

より直感的で洗練されたユーザインタフェースで

種々のテスト・計測作業の簡素化・効率化に貢献する新ソフトウェア

 

 日本ナショナルインスツルメンツ株式会社(本社:東京都港区、代表取締役:コラーナ マンディップ シング、以下日本NI)は、2018年5月23日、NIのPXI(PCI eXtensions for Instrumentation)モジュール式計測器の使い勝手をさらに向上させるソフトウェア「InstrumentStudio」をリリースします。InstrumentStudioは、自動テスト開発のプロセスにおいて必要となる計測器のインタラクティブ(対話的)操作を、従来よりも直感的かつ便利に進められるようにするためのソフトウェアです。InstrumentStudioを導入することで、自動車、半導体、航空宇宙をはじめ、様々な業界で実施される自動テストシステムの開発効率を向上でき、コスト削減や市場投入までの期間(Time-to-market)短縮を通じて事業の競争力向上を図ることができます。

 InstrumentStudioは、従来NIがPXIモジュール式計測器のインタラクティブ操作用ソフトウェアとして提供してきた「ソフトフロントパネル」を進化させたものです。従来のソフトフロントパネルでは、オシロスコープ、信号発生器などPXIモジュール式計測器の種別ごとに専用のソフトフロントパネルを起動する必要がありました。それに対し、InstrumentStudioでは、ひとつのウィンドウの中に、種類の異なる様々な計測器の操作機能が統合されているため、ひとつのウィンドウであらゆる計測操作を完結できます。また、オシロスコープとSMU(ソースメジャーユニット)など、複数の計測器から得た計測結果を並べて比較したり、計測結果のスクリーンショットをクリックひとつで取得し、そのままレポートに貼り付けたりすることが容易になります。加えて、InstrumentStudioでは、使用したいPXIモジュール式計測器の種類や計測内容に応じて、ユーザがウィンドウ上の各種機能のレイアウトを自由に構成できるようになっています。さらに、この構成情報はファイルに保存できるため、特定のDUT(テスト対象デバイス)をテストするための構成を保存しておけば、再度同じテストを行う必要が生じた際に、前回の作業画面を呼び出して即座に計測作業に移ることができます。また、PXIをベースとしたテストベンチが複数ある場合、構成ファイルをコピーすれば、あるテストベンチの構成を他のテストベンチにも複製できます。特に、多くの製品ラインナップを手掛ける場合、過去のテスト環境を必要なタイミングで素早く再現できることが、テスト作業の効率を図るうえでの鍵になります。

 ※以下は添付リリースを参照

 National Instruments、NI、ni.comはNational Instruments Corporationの商標です。

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添付リリース

http://release.nikkei.co.jp/attach_file/0480422_01.pdf