米国テキサス州フォートワースで開かれた「ITC(International Test Conference)2017」(本会議10月31日~11月2日)の10月31日の基調講演には、米ON Semiconductor社のRobert Klosterboer氏(Executive Vice President and General Manager, Analog Solutions Group)が登壇した。講演タイトルは「Testing Beyond the Green Light」だった。

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