今回もパワーデバイス・イネーブリング協会(PDEA)が主催する「半導体テスト技術者検定2級」の「応用と品質」分野の問題を紹介する。(本コラムの詳細はこちら、PDEAについてはこちら、半導体テスト技術者検定の教科書についてはこちら、検定の問題集についてはこちら)。

 デバイスの高速化に伴いデジタル信号に含まれる高周波成分が引き起こすEMI(電磁妨害)の問題は無視できなくなってきている。EMIの対策には筐体の静電シールドと磁気シールド、あるいは電磁シールドを行えばよいが、軽量化・小型化している電子部品では簡単でない。出来るだけノイズを発生せず、またノイズを放射しない設計が必要である。こうした対策をするには、電磁気現象に関する広範囲な知識が必要とされる。「応用と品質」分野ではデバイス単体だけでなく基板やシステムでの使い方までにわたる幅広い知識を求めている。

 今回の問題の難易度は★★★(本コラムでは紹介する問題の難易度を★の数(難易度に応じて1~5個)で表しており、★の数が多いほど難しい)。デジタル信号のアナログ的性質を理解してない人には難しいかもしれない。常套手段として用いられる各手法の特徴を理解してほしい。

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