東芝マイクロエレクトロニクスは、LSIテスト関連データ記述言語「STIL:Standard Test Interface Langugae」に関して、「ATEテクノロジーフォーラム」(2012年9月19日にATEサービスが東京で開催)で講演した。テスト・パターンに関する仕様が1999年にIEEE Std. 1450.0として標準化されて以来、現在もSTILは拡張・標準化が続いている。

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