東京大学 大学院工学系研究科 電気系工学専攻 准教授の竹内健氏の研究グループとSIGLEAD社は共同で,NANDフラッシュ・メモリに書き込むデータのパターンをコントローラ回路で変調することによって,SSDの動作信頼性を95%高め,書き込み電力を43%削減する技術を開発した(講演番号11.4)。4X~3Xnm世代のNANDフラッシュ・メモリで構成したSSDに,このコントローラ回路をFPGAとして実装し,その効果を実証している。多値(MLC:multi-level cell)技術を用いた大容量のNANDフラッシュ・メモリを搭載したSSDの,信頼性や動作速度の向上につながる成果である。

ここからは会員の登録が必要です。