A-D変換器のスペクトラム・テストを低コストで行う手法を、米Iowa State Universityが、「ITC(International Test Conference) 2012」(2012年11月4日~9日に米国で開催)のポスター・セッションで提案した。タイトルは「A Low-Cost Spectral Testing Method for Analog-to-Digital Converters with Amplitude Clipping and Noncoherent Sampling」(ポスター番号PO19)である。

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