日本の4大学(九州工業大学、奈良先端科学技術大学院大学、首都大学東京、大分大学)が日立製作所と共同で、SoCのフィールド劣化に関する講演を「ITC(International Test Conference) 2012」(2012年11月4日~9日に米カリフォルニア州Anaheimで開催)で行った。講演タイトルは、「DART:Dependable VLSI Test Architecture and Its Implementation」(講演番号15.2)である。

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