今回もパワーデバイス・イネーブリング協会(PDEA)が主催する「半導体テスト技術者検定2級」の「応用と品質」分野の問題を紹介する。(本コラムの詳細はこちら、PDEAについてはこちら、半導体テスト技術者検定の教科書についてはこちら、検定の問題集についてはこちら)。

 製造直後のデバイスの品質は不良率で表され、半導体テストで不良品をできるだけ排除することで不良率を低減する(理想的には不良率0が目標)。一方、出荷後に装置に組み込まれたデバイスの品質は、故障率や信頼度という評価指標で表される。当初は動作していたデバイスもある時刻で障害が発生し機能しなくなることがあるので、故障率や信頼度は時間とともに変化する指標と考えられ、時刻の関数として定義される。数式が若干出てくるので拒絶反応を示す人もいるかもしれないが、理解すればそれほど複雑でないので慣れてほしい。

 今回の問題の難易度は★★(本コラムでは紹介する問題の難易度を★の数(難易度に応じて1~5個)で表しており、★の数が多いほど難しい)。信頼度の計算を、メモリーを例に考える。

【2級 応用と品質】【問題3】難易度:★★

 時刻0で正常に動作するSRAMセルが時刻tまで正常に動作する確率がpであるとする。1ワードはn個のSRAMセルからなる。ECC(Error Correction Code)機能で1ビットまでのデータは訂正できるものとするとした場合、1ワードが時刻tまで正しくデータが読める確率について、以下の中から正しいものを選びなさい。 ただし、n個のSRAMセルは時刻0で正常に動作しているとする。

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